蔡司光学测量家族系列：以非接触式精准，守护工业质量高度

发布时间：2026-07-10 20:01:53 来源：深圳市鑫荣皓电子有限公司 作者：探索

在工业制造的蔡司测量触式精密世界里，每一个微小的光学工业高度尺寸偏差都可能影响产品的性能与安全。当工业制造进入微米级精度竞争时代，家族精准传统测量方式在面对微小部件、系列复杂形状或易损材质时，非接需要更适配的守护技术方案来突破局限。蔡司作为光学测量领域的质量先锋，凭借百年光学技术积淀，蔡司测量触式其推出的光学工业高度影像三坐标测量机系列，提供了从快速影像测量到复合式检测的家族精准全方位解决方案，在电子、系列汽车、非接医疗等行业大显身手。守护

O-DETECT快速精准的质量影像测量

对于追求高效与便捷的生产场景，ZEISS O-DETECT 是蔡司测量触式理想之选。它以直观操作、高质量成像和灵活照明为核心，兼具快速与精准的特性，操作简便，即使是新手也能快速上手。

核心优势

高图像质量和出色的光学系统

以高分辨率提供大观察视野，捕捉更多细节。

使用500万像素的相机捕获高质量的图像，将图像转换为精准的测量结果。

灵活的配置选项

可升级为复合式测量设备，选配接触式传感器，易于升级。

不同照明选项，更具灵活性

可更换附件平台。

多功能且易于更换的顶灯，对准确的测量结果起着关键作用。

O-INSPECT复合测量，兼顾精度与灵活

ZEISS O-INSPECT 复合式测量机则实现了光学与接触式测量的融合，让您能以适合的方式通过光学或接触式测量到每一个特征。它在 1D、2D 和 3D 方面皆符合 ISO-10360 验收标准，保证了测量结果的可靠性。

核心优势

大观察视野，提供良好的图像质量

ZEISS Discovery.V12相机传感器，捕捉微小细节。

敏感表面的光学测量

ZEISS Dotscan以非接触的方式捕捉工件形貌。

快速准确的三维触觉测量

ZEISS VAST XXT一次扫描即可获取大量测量点，实现高精度扫描。

O-INSPECT duo一机双能，效率与空间双提升

ZEISS O-INSPECT duo作为蔡司首款多技术合一系统，将测量技术和显微技术融为一体，兼具显微镜与光学及接触式测量功能，是一款真正的多传感器设备。

核心优势

显微镜和测量机合二为一

多传感器测量机，准确的光学和接触式测量。

500万像素高分辨率彩色相机，准确检测缺陷。

双软件支持

配备两款专为各自任务设计的软件：用于测量的ZEISS CALYPSO，和用于显微观察的ZEISS ZEN core。

相关文章